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1、[0004]鉴于现有技术的现状，本发明的目的在于提供一种电子元器件开短路的实验方法和测试装置，提高开短路的实验的自动化程度和人机交互性能。[0005]为实现上述目的，本发明的技术方案如下:。[0006]一种电子元器件开短路实验的方法，包括以下步骤:。[0007]S1、测试装置初始化，遥控启动所述测试装置。

2、[0008]S2、通过拨码开关设置继电器的标志位并存储所述标志位信息。[0009]S3、遥控设置开短路实验的时间。[0010]S4、MCU读取所述标志位信息并根据所述标志位信息控制其所述标志位对应的继电器吸合，持续一定时间后，所述MCU控制所述继电器断开，开短路实验完毕。[0011]在其中一个实施例中，所述步骤SI还包括以下步骤:。

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（检查电阻串联电路故障图）。检查短路故障也可以用R1两端电压的方法，如果R1两端的电压比正常值高，在电压+V没有增大时可以说明电阻串联电路中存在短路故障，因为只有串联电路中存在短路才会使电路中电流增大，使R1两端的电压增大。以上的检测方法存在一些不足的地方，检测必须要知道R1两端的正常电压是多少，否则就无法判断电路中的电流是不是增大了。

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[0012]S11、上电复位，复位后所有继电器均处于断开状态，各继电器的指示灯熄灭，复位完成后蜂鸣器发首提不。[0013]S12、自检，使各继电器依次导通，继电器导通时其对应的指示灯被点亮。[0014]在其中一个实施例中，步骤S2包括:。[0015]S21、将需要使用的继电器对应的拨码开关拨到ON位置，需要使用的继电器对应的拨码开关拨到ON位置时，所述继电器对应的标志位为1，该继电器在开短路实验中吸合。

[0016]S22、MCU将读取到的标志位保存在MCU的寄存器C中。[0017]在其中一个实施例中，步骤S4中，所述继电器吸合前还包括如下步骤:。[0018]S41、判断寄存器C的值是否为0，若是，所有继电器均闲置，则结束开短路实验。

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